Indrawansyah, Irwan, Institut Sains dan Teknologi Al-Kamal, Indonesia
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PROSIDING SEMNASTEK 2019 - Articles
Analisa Kualitas Proses Produksi Cacat Uji Bocor Wafer dengan menggunakan Metode Six Sigma serta Kaizen sebagai Upaya Mengurangi Produk Cacat Di PT. XYZ
Abstract PDF
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Prosiding SEMNASTEK Fakultas Teknik
Universitas Muhammadiyah Jakarta
Jl. Cempaka Putih Tengah 27
Jakarta Pusat 10510
T. 021.4256024, 4244016 / F. 021.4256023
ISSN : 2407 – 1846
e-ISSN : 2460 – 8416
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